摘要：Facebook工程師和卡內(nèi)基梅隆大學(xué)研究人員組成的團(tuán)隊(duì)，已經(jīng)發(fā)表了一項(xiàng)歷時(shí)4年的《閃存失效率報(bào)告》，而其數(shù)據(jù)則是來自Facebook服務(wù)器上的固態(tài)硬盤驅(qū)動(dòng)器。盡管研究結(jié)果未能全面概括出可用于建模的數(shù)據(jù)，但它仍然為大家給出了實(shí)用且詳盡的信息。據(jù)悉，研究團(tuán)隊(duì)直接從驅(qū)動(dòng)器的硬件層來獲取數(shù)據(jù)，而不是依賴于操作系統(tǒng)層面的報(bào)告數(shù)據(jù)，因此能夠真實(shí)反映閃存單元的實(shí)際寫入量。

2007年的時(shí)候，Google公司曾發(fā)表過類似的“機(jī)械硬盤失效率研究報(bào)告”。不過針對固態(tài)硬盤的新研究的有趣之處在于——失效往往在早期出現(xiàn)，隨后又一帆風(fēng)順，直到驅(qū)動(dòng)器壽終正寢。

當(dāng)然，這里還有個(gè)關(guān)鍵的區(qū)別，那就是團(tuán)隊(duì)如何確定這種“早期發(fā)現(xiàn)”（early detection period）。當(dāng)SSD仍處于“年輕”狀態(tài)的時(shí)候，主控會立即識別出哪些閃存單元是不可靠的。

根據(jù)下方統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，我們發(fā)現(xiàn)大容量SSD同樣會在早期階段出現(xiàn)這種類似的閃存單元失效狀況。

這項(xiàng)研究還表明，溫度對閃存的可靠性有著直接的影響。當(dāng)SSD在溫度更低的環(huán)境下使用、或者部署了更積極的調(diào)節(jié)機(jī)制的時(shí)候，其閃存單元失效率也會明顯更少。

有趣的是，在閃存單元的生命周期中，數(shù)據(jù)的讀取量似乎沒有任何關(guān)聯(lián)。